Инвертированный микроскоп Nikon Ts2R со светодиодным осветителем высокой интенсивности позволяет реализовать широкий спектр методов наблюдения.
В дополнение к известным методам контрастирования (фазовый контраст, DIC, модуляционный контраст NAMC) на данной модели возможна реализация новой технологии – рельефного Emboss-контраста. Метод не требует специальных объективов и может быть использован как со стеклянными, так и с пластиковыми чашками, позволяя наблюдать высококонтрастные псевдотрехмерные изображения.
Кнопки включения/выключения осветителей, а также переключения между диакопическим и эпи-флуоресцентным освещением расположены на передней панели микроскопа для упрощенного рабочего процесса.
Высокоинтенсивные светодиодные источники проходящего и отраженного света позволяют осуществлять самые разнообразные методы наблюдения, в том числе, по методу DIC. На данном микроскопе также возможна реализация эпи-флуоресцентного наблюдения до четырех каналов флуоресценции и 7 различных длин волн на выбор.
Специальная механическая шторка блокирует свет в помещении, позволяя проводить эпи-флуоресцентные наблюдения даже в не затемненном помещении.
Механический столик позволяет установить пределы перемещения и выбрать один из двух вариантов длины рукоятки для максимального удобства в работе.
Небольшие размеры микроскопа Nikon Ts2R дают возможность разместить его в рабочей станции, а низкое положение столика обеспечивает наилучший̆ контроль и четкую видимость образца даже при низком положении фронтального стекла ламинарного шкафа.
Высота расположения столика на микроскопе Nikon Ts2R ниже в сравнении с обычными исследовательскими микроскопами на 30%. Это обеспечивает удобное положение рук во время повторяющихся операций и смены образцов. Кроме того, откидывающая колонна осветителя и порт камеры, расположенный слева на окулярном тубусе, улучшают доступ и обзор препарата.
Прямоугольный механический столик микроскопа имеет расширенный диапазон перемещений, что позволяет наблюдать всю площадь 96-луночного планшета. Вы также можете установить пределы перемещения по XY в зависимости от размера образца и используемой посуды.
